
Inline-3D-CT-automatisierte Röntgeninspektionssysteme für XXL-Leiterplatten
Nächste-
Generation
AXI
Das 3Xi-ZS1EX ist ein automatisiertes Röntgeninspektionssystem der nächsten Generation (AXI), das speziell für großformatige (XXL) Leiterplatten entwickelt wurde. Dank seiner kompakten Bauweise, hochauflösender 3D-CT-Bildgebung und fortschrittlicher KI-gestützter Inspektion ermöglicht es die stabile und effiziente Prüfung komplexer Baugruppen, die in Rechenzentren und KI-Infrastrukturen zum Einsatz kommen.

Ihre Vorteile auf einen Blick
- Prüfen Sie alle Leiterplattengrößen bis hin zu XXL-Formaten mit kompakter Bauform.
- Hochgeschwindigkeits-3D-CT-Bildgebung mit hoher Auflösung
- Konzipiert für hohe Bauteile wie z. B. Presspassstifte
- Integrierte KI-gestützte Bildanalyse für verbesserte Inspektionsleistung
Präzise Fehlererkennung mit hochauflösender 3D-Bildgebung
Die fortschrittliche 3D-CT-Technologie ermöglicht die hochpräzise Erkennung von Defekten wie BGA-Hohlräumen und Nichtbenetzung.
Presspassungsbauteile, die häufig in großen Server-Leiterplatten verwendet werden, werden in 3D klar erfasst, wodurch eine zuverlässige Erkennung von verbogenen oder fehlenden Pins gewährleistet wird.
Beispiel für die Fehlererkennung mithilfe hochauflösender Bilderfassung
Kopf im Kissen

Ungültigkeitsdefekt

Presspassungsfehler

Proprietäre „Planar CT“-Technologie
Die einzigartige planare CT-Technologie von SAKI erfasst in kürzester Zeit Hunderte von hochauflösenden tomographischen Bildern.
Diese werden zu hochpräzisen 3D-Daten rekonstruiert, die eine klare Visualisierung komplexer Strukturen und sogar mikroskopischer Defekte ermöglichen.

Hochpräzise Korrekturtechnologie
Die Erzeugung hochauflösender 3D-Bilder erfordert hochpräzise Korrekturtechnologie. SAKIs 3D-AXI nutzt Musterdaten, eine automatische Funktion zur Korrektur von Leiterplattenverzug in XYZ-Richtung und eine Positionierungsfunktion, um die Prüfgenauigkeit zu verbessern und gleichzeitig die Erstellung von Prüfprogrammen zu vereinfachen.
One Piece-Funktion

Selbst bei großformatigen Leiterplatten, bei denen Verformungen die Ergebnisse erheblich beeinträchtigen können, erkennt das System automatisch Referenzmuster und führt präzise Korrekturen durch.
Dies trägt dazu bei, eine stabile und wiederholbare Inspektionsleistung auch bei verzogenen großformatigen Leiterplatten zu gewährleisten.

KI-gestützte Inspektion für bessere Qualität und Effizienz
KI-Rauschunterdrückung
Die KI-gestützte Rauschunterdrückung verbessert die Bildschärfe, trägt zur besseren Erkennung kleiner Hohlräume und anderer subtiler Defekte bei und steigert die Inspektionsleistung erheblich.

KI-Untersuchung Leere
Erübrigt sich die manuelle Parameteranpassung bei der Hohlraumerkennung.
Der Algorithmus wendet automatisch optimierte Inspektionsbedingungen an, um trotz Schwankungen der Bildgebungsbedingungen eine gleichbleibende Inspektionsleistung zu gewährleisten.

Kompaktes Design mit großer Platinenkapazität
Trotz seiner kompakten Bauweise unterstützt das System Leiterplattengrößen bis zu 1000 x 690 mm (XXL).
Es eignet sich ideal für Produktionsumgebungen mit begrenztem Platzangebot und ist in der Lage, die immer größeren und komplexeren Serverplatinen von heute zu verarbeiten.

Erhöhter Durchsatz bei gleichzeitig hoher Inspektionsleistung
Im Vergleich zu Vorgängermodellen wurde die Taktzeit um etwa das 1,6-fache verbessert.
Das optimierte Systemdesign ermöglicht eine schnellere Inspektion bei gleichzeitig hoher Genauigkeit und trägt so zur Steigerung des Durchsatzes in Produktionsumgebungen mit hohem Durchsatz bei.
Robuste Hardwarearchitektur
SAKIs firmeneigenes Hardware-Design erzielt sowohl Geschwindigkeit als auch Präzision:
• Hochsteife Rahmenkonstruktion für Langlebigkeit und Wiederholgenauigkeit
• Zweiachsiges Portalsystem für stabile Bewegung
• Vollständig gekapselter Motorantrieb für präzise Positionierung bei hohen Geschwindigkeiten

Flexibler Freiraum für komplexe Baugruppen
Entwickelt mit ausreichend Platz für doppelseitige Leiterplatten und hohe Bauteile.
Diese Flexibilität unterstützt die Prüfung unterschiedlicher Leiterplattendesigns und Montagekonfigurationen.

Luftloses Design für schnellere Startzeit
Das luftlose Verschlusssystem ermöglicht einen schnelleren Betrieb und macht Luftkorrekturen überflüssig.
Zu den Vorteilen gehören:
• Verkürzte Startzeit
• Verbesserte Taktzeit
• Geringerer Energieverbrauch und reduzierte CO₂-Emissionen
Einfache Programmierung
Die Erstellung von Inspektionsprogrammen wird deutlich vereinfacht:
• Verwendung von Konstruktionsdaten
• Automatische Einstellungen der Bildgebungsbedingungen pro Sichtfeld
Dadurch werden Rüstzeiten verkürzt und die betriebliche Effizienz verbessert.
Fehlerbehebung ohne Produktionsstopp
Die Offline-Debugging-Funktion ermöglicht das Sammeln und Debuggen von Images, ohne den Maschinenbetrieb anhalten zu müssen. Neben Echtzeit-Bibliotheksaktualisierungen wird ein Katalog historischer Fehlerdaten gespeichert und kann erneut eingesehen werden, was die kontinuierliche Prozessverbesserung und Qualitätssicherung unterstützt.

Vorteile der Zusammenarbeit mit AOI
Für eine einfache Bedienung nutzt die 3D-AXI-Inspektionsmaschine von SAKI dieselbe Softwareplattform wie die AOI-Lösungen. Durch die Gewährleistung einer durchgängigen Qualitätskontrolle entlang der Produktionslinie werden die Inspektionsergebnisse von AOI und AXI integriert und auf demselben Bildschirm angezeigt.
Röntgendosis-Simulator
Bei Röntgenprüfungen ist die Minimierung der Strahlenbelastung für elektronische Baugruppen von entscheidender Bedeutung. Die Röntgenprüfgeräte von SAKI sind mit einem Dosis-Simulator ausgestattet, der die Strahlendosis für jeden Bereich berechnet und so die Bildgebungsbedingungen optimiert. Röntgenstrahlen werden ausschließlich während der Bildaufnahme erzeugt, wodurch die Strahlenbelastung minimiert wird.
Röntgendosis-Simulator

Optimale Funktionen für jeden Prozess
SMT
- Beispiel für die Erkennung von SMT-Prozessfehlern
Backend
- Beispiel für die Fehlererkennung im Backend-Prozess
- Die Komplettlösung von SAKI
Beispiele für die Fehlererkennung im SMT-Prozess
BGA Kopf im Kissen
Das 3D-AXI trennt unbenetzte Formen, die traditionell schwer zu erkennen sind, eindeutig und führt eine Inspektion anhand des Volumenverhältnisses und der Form der Lotkugeln durch.

BGA-Void-Defekt
Die automatische Prüfung des Hohlraumvolumenverhältnisses und des Hohlraumflächenverhältnisses stellt sicher, dass keine Hohlräume, egal wie klein, übersehen werden.

IC-Komponenten-Lötdefekt
Die Beurteilung „Bestanden/Nicht bestanden“ basiert auf Änderungen der Position, Höhe, Breite, des Winkels und der Anzahl der IC-Komponenten der Verrundung. Wenn sich Lötzinn zwischen den Leitungen kreuzt, wird dies als Brückendefekt erkannt.

Chip-Komponenten-Lötdefekt
Die Beurteilung „Bestanden/Nicht bestanden“ basiert auf Änderungen der Hohlkehlenposition, der Höhe, der Breite, des Winkels und der Anzahl der Chipteile.

Beispiele für die Fehlererkennung im Backend-Prozess
Einfügeteil: Einpresskomponenten – Einfügefehler
Wird der Stift nicht bis zur vorgegebenen Tiefe in das Durchgangsloch eingeführt, wird dies als Einführfehler (NG) erkannt.

Einfügungsteil: Unzureichende Lotfüllung
Das 3D-AXI misst die Lotfüllrate im Durchgangsloch und erkennt zuverlässig Fehler, die bei der allgemeinen tomografischen Bildbereichsinspektion übersehen werden.
Alle Inspektionen erfüllen oder übertreffen die IPC-Standards.

Einfügungsteil: Fehlerhafte Brücke
Wenn sich Lot zwischen den Leitungen kreuzt, wird dies als Brückendefekt erkannt.

SAKIs Komplettlösungen
Das 3D-AOI von SAKI nutzt eine gemeinsame Plattform mit 3D-SPI und 3D-CT-AXI.
Wir können alles abdecken, von der Lotprüfung nach dem Drucken mittels SPI bis hin zur Prüfung montierter Komponenten mit einem konsistenten Betrieb.

Spezifikation

3Xi-ZS1EX
| Modell | 3Xi-ZS1EX |
|---|---|
| Röntgenröhre | Geschlossene Röntgenquelle (130 kV, 39 W) |
| Größe (B)×(T)×(H)mm (Zoll) | 1.482 x 2.488 x 1.630 (58,35 x 97,95 x 64,17) |
| Auflösung | 5 – 27 μm *1 |
| PCB-Freiraum | Oben: 115 – 130 mm (4,53 – 5,12 Zoll) / Unten: 96 mm (3,78 Zoll) * 2 |
| Strombedarf | Dreiphasig 200–240 V ±5 %, 50/60 Hz 3,1 kVA |
| Röntgenleckage | 1,0 μSv/h oder weniger |
| Leiterplattengröße (L)×(B)mm (in.) | 120 x 50 – 1.000 x 690 ( 4,73 x 1,97 – 39,37 x 27,17 ) |
| Gewicht | ca. 3.500 kg |
*1 Die Auflösung variiert je nach Kundenspezifikation.
*2 Die maximale Bauteilhöhe auf der Oberseite kann je nach Kundenspezifikation und Platinenverzug variieren.
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